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陰極發(fā)光儀/陰極發(fā)光顯微鏡

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陰極發(fā)光儀/陰極發(fā)光顯微鏡昊量光電新推出用于微電子、半導(dǎo)體、絕緣材料、地質(zhì)學(xué)和礦物學(xué)材料測(cè)量的法國(guó)NewTec陰極射線顯微鏡

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陰極發(fā)光儀/陰極發(fā)光顯微鏡

昊量光電新推出用于微電子、半導(dǎo)體、絕緣材料、地質(zhì)學(xué)和礦物學(xué)材料測(cè)量的法國(guó)NewTec陰極射線顯微鏡。陰極發(fā)光是一種光譜方法，它可以在局部尺度上識(shí)別缺陷和雜質(zhì)，這些缺陷和雜質(zhì)與被電子槍轟擊的材料的發(fā)光特性有關(guān)。