當(dāng)前位置：上海昊量光電設(shè)備有限公司>>光學(xué)檢測設(shè)備>>膜厚測量儀>>激光干涉膜厚測量儀

激光干涉膜厚測量儀

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：經(jīng)理查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2024-02-13 15:54:05瀏覽次數(shù)：245次

聯(lián)系我時(shí)，請告知來自環(huán)保在線

暫無信息

上海昊量光電設(shè)備有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：615條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：經(jīng)理（經(jīng)理）

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡介

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備

詳細(xì)介紹

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀

Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度。

薄膜測厚儀，激光，膜厚測量儀，激光干涉薄膜測量系統(tǒng)

韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領(lǐng)域的高科技公司，旗下有多種產(chǎn)品，包括成像系統(tǒng)，光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)，和激光干涉薄厚測量儀。

Xper-IP正是基于Nanobase的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度，產(chǎn)品具有以下特點(diǎn)：

精度 ±0.2 %

重復(fù)準(zhǔn)度 ±0.003 %

超寬測量范圍 0.03 mm to 1.2 mm
人性化軟件，易于使用

性價(jià)比高

同時(shí)測量多層膜厚

結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，適用于實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)環(huán)境

參數(shù)

型號	Xper-ITP（激光干涉測厚）	Xper-（激光干涉測表面形貌）
測量范圍	100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波長范圍，與分辨率成反比)
準(zhǔn)確度	±0.2 %
重復(fù)性	單點(diǎn)：0.01% full range（<>）平均：0.003% full range（<>）
速度	激光：標(biāo)準(zhǔn)30pps，（Max：100，000pps）
光源	激光：SLD(840nm)