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上海昊量光電設備有限公司
加工定制 | 否 |
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激光干涉膜厚測量儀*的光譜干涉技術的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。
Xper-IP激光干涉膜厚測量儀是基于Nanobase公司*的光譜干涉技術的一款激光干涉膜厚儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度。
韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領域的高科技公司,旗下有多種產品,包括拉曼光譜成像系統,OCT光學相干斷層掃描系統,可調諧激光器和激光干涉薄厚測量儀。
Xper-IP激光干涉膜厚測量儀正是基于Nanobase*的光譜干涉技術的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度,產品具有以下特點:
精度 ±0.2 %
重復準度 ±0.003 %
超寬測量范圍 10 mm to 1 mm
人性化軟件,易于使用
性價比高
同時測量多層膜厚
結構堅固,適用于實驗室和工業環境
參數
型號 | Xper-ITP(激光干涉測厚) | Xper-ISP(激光干涉測表面形貌) |
測量范圍 | 100-1000微米,200-2000微米,(或者定制波長范圍,與光譜儀分辨率成反比) | |
準確度 | ±0.2 % | |
重復性 | 單點:0.01% full range(<100nm) 平均:0.003% full range(<30nm) | |
速度 | 激光:標準30pps,(大100,000pps) | |
光源 | 激光:SLD(840nm)
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