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上海昊量光電設(shè)備有限公司
產(chǎn)品型號Xper-IP
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地上海市
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更新時間:2020-03-15 14:36:32瀏覽次數(shù):1105次
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激光干涉膜厚測量儀*的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。
Xper-IP激光干涉膜厚測量儀是基于Nanobase公司*的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度。
韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領(lǐng)域的高科技公司,旗下有多種產(chǎn)品,包括拉曼光譜成像系統(tǒng),OCT光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng),可調(diào)諧激光器和激光干涉薄厚測量儀。
Xper-IP激光干涉膜厚測量儀正是基于Nanobase*的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度,產(chǎn)品具有以下特點:
精度 ±0.2 %
重復(fù)準(zhǔn)度 ±0.003 %
超寬測量范圍 10 mm to 1 mm
人性化軟件,易于使用
性價比高
同時測量多層膜厚
結(jié)構(gòu)堅固,適用于實驗室和工業(yè)環(huán)境
參數(shù)
型號 | Xper-ITP(激光干涉測厚) | Xper-ISP(激光干涉測表面形貌) |
測量范圍 | 100-1000微米,200-2000微米,(或者定制波長范圍,與光譜儀分辨率成反比) | |
準(zhǔn)確度 | ±0.2 % | |
重復(fù)性 | 單點:0.01% full range(<100nm) 平均:0.003% full range(<30nm) | |
速度 | 激光:標(biāo)準(zhǔn)30pps,(大100,000pps) | |
光源 | 激光:SLD(840nm)
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