激光干涉膜厚測量儀

參考價: ￥ 660

訂貨量: ≥1 件

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產品型號Xper-IP

品牌

廠商性質經銷商

所在地上海市

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更新時間：2020-03-15 14:36:32瀏覽次數：1110次

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上海昊量光電設備有限公司

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產品簡介

加工定制	否

激光干涉膜厚測量儀*的光譜干涉技術的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。

詳細介紹

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀是基于Nanobase公司*的光譜干涉技術的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度。

韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領域的高科技公司，旗下有多種產品，包括拉曼光譜成像系統，OCT光學相干斷層掃描系統，可調諧激光器和激光干涉薄厚測量儀。

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀正是基于Nanobase*的光譜干涉技術的一款膜厚測量儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。Xper-IP可用于測量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度，產品具有以下特點：

精度 ±0.2 %

重復準度 ±0.003 %

超寬測量范圍 10 mm to 1 mm
人性化軟件，易于使用

性價比高

同時測量多層膜厚

結構堅固，適用于實驗室和工業環境

參數

型號	Xper-ITP（激光干涉測厚）	Xper-ISP（激光干涉測表面形貌）
測量范圍	100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波長范圍，與光譜儀分辨率成反比)
準確度	±0.2 %
重復性	單點：0.01% full range（<100nm）平均：0.003% full range（<30nm）
速度	激光：標準30pps，（大100，000pps）
光源	激光：SLD(840nm)