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上海昊量光電設備有限公司


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激光干涉膜厚測量儀

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參   考   價: 660

訂  貨  量: ≥1  件

具體成交價以合同協議為準

產品型號Xper-IP

品       牌

廠商性質經銷商

所  在  地上海市

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更新時間:2020-03-15 14:36:32瀏覽次數:1107次

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經營模式:經銷商

商鋪產品:615條

所在地區:上海上海市

聯系人:經理 (經理)

產品簡介
加工定制    

激光干涉膜厚測量儀*的光譜干涉技術的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。

詳細介紹

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀是基于Nanobase公司*的光譜干涉技術的一款激光干涉膜厚儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度。

韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測量領域的高科技公司,旗下有多種產品,包括拉曼光譜成像系統,OCT光學相干斷層掃描系統,可調諧激光器和激光干涉薄厚測量儀。

 

Xper-IP激光干涉膜厚測量儀正是基于Nanobase*的光譜干涉技術的一款膜厚測量儀,是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備。Xper-IP可用于測量各種材料(如各種薄膜,鍍膜,顯示面板等)的厚度,產品具有以下特點:

 

精度 ±0.2 %

重復準度 ±0.003 %

超寬測量范圍 10 mm to 1 mm
人性化軟件,易于使用

性價比高

同時測量多層膜厚

結構堅固,適用于實驗室和工業環境

 

參數

 

型號

Xper-ITP(激光干涉測厚)

Xper-ISP(激光干涉測表面形貌)

測量范圍

100-1000微米,200-2000微米,(或者定制波長范圍,與光譜儀分辨率成反比)

準確度

±0.2 %

重復性

單點:0.01% full range(<100nm)

平均:0.003% full range(<30nm)

速度

激光:標準30pps,(大100,000pps)

光源

激光:SLD(840nm)

 

關鍵詞:光譜儀

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