OmniScan X3無損探傷儀除了繼承以往系列儀器可靠、便利、防水、防塵等優點外，在圖像質量方面取得了長足的進步。針對形狀復雜工件的檢測難點，OmniScan X3通過使用64晶片孔徑支持的全聚焦方式（TFM），讓用戶可以獲得工件各部分更清晰的圖像，并可以將這些進行圖像融合，生成正確反映工件的幾何形狀，使得用戶可以對使用常規相控陣技術獲得的缺陷特性進行驗證，有效改進了以前對于缺陷圖像“解讀難”的問題。TFM重建模式大像素為1024×1024，可以同時動態呈現4個TFM視圖。新加入的16特A掃描、插值和平滑等功能以及10.6英寸的WXGA顯示屏，都使圖像更加清晰可見，使得檢測人員的工作更加直觀、準確。為進一步推動檢測結果更準，OmniScan X3探傷儀配備綜合性機載掃查計劃工具，可以在一個簡單的工作流程中創建包括全聚焦方式（TFM）區域在內的整個掃查計劃。儀器同時配備探頭和聲束組，能夠創建雙晶線陣和雙矩陣模式，借助自動楔塊驗證等功能，設置的創建速度再上新階，讓工作人員對問題的發現和分析得到更高的效率。

在數據分析檢測方面，無論使用OmniScan X3探傷儀本身還是使用PC機，用戶都可以快速進行分析，并完成報告的制作。儀器還配備了多種數據解讀工具，比如圓周外徑（COD）TFM圖像重建，便于對長焊縫的缺陷指示進行解讀和定量。融合B掃描，便于對相控陣焊縫的缺陷指示進行篩查，可使工作流程保持簡單流暢。

此外，OmniScanX3無損探傷儀配置有高達25G的存儲空間，可以存放大量圖像而無需頻繁進行導出，并且增加了和奧林巴斯科學云（OSC）系統的無限聯通性能，從而確保了內部軟件保持實時更新，讓使用者更加省心。