介電常數測試儀生產廠家特點：
◎ 本公司創新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
介電常數測試儀生產廠家主要技術指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率
可調電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
使用方法
- 被測樣品的準備
被測樣品要求為園形，直徑25.4～27mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1～5mm之間，如太薄或太厚則測試精度就會下降，樣品要盡可能平直。
下面推薦一種能提高測試精確性的方法：準備二片厚0.05mm的園形錫膜，直徑和平板電容器極片*，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘著作用，又能排除接觸面之間殘余空氣，把
錫膜再粘在平板電容器兩個極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳，然后放上被測樣品。
測試順序
先要詳細了解配用Q表的使用方法，操作時，要避免人體感應的影響。
- 把配用的Q表主調諧電容置于zui小電容量，微調電容置于－3pF。
- 把本測試裝置插到Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
- 配上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈
- 調節平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為DO。
- 再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取新的刻度值，記為D1，這時樣品厚度D2= D1－D0。
- 把園筒電容器置于5mm處。
- 改變配合Q表頻率，使之諧振，讀得Q值。
- 先順時針方向，后逆時針方向，調節園筒電容器，讀取當Q表指示Q值為原值的一半時測微桿上二個刻度值，取這二個值之差，記為M1。
- 再調節園筒電容器，使Q表再次諧振。
- 取出平板電容器中的樣品，這時Q表又失諧，調節平
板電容器，使再諧振，讀取測微桿上的讀值D3，其變化值為
D4= D3－D0。
- 和h款操作一樣，得到新的二個值之差，記為M2。
3. 計算測試結果
被測樣品的介電常數：
Σ＝D2 / D4
被測樣品的損耗角正切值：
tgδ＝K（M1－M2 ）/ 15.5
式中：K為園筒電容器線性變化率，一般為0.33 / mm，每個測試夾具在盒蓋內標有具體數值。
一般按以上公式計算的結果，其精度和重復性是能滿足的，但對介電常數大的被測樣品（即樣品從平板樣品放入和取出，平板電容器刻度值變化較大），邊緣效應電容對測試會有較顯著的影響，這時可按下列公式計算：
Σ＝（C2 + CF2－CF）/ C1
tgδ＝K（M1－M2 ）/ 3.46（C2 + CF2－CF）/ C1
