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上海曼戈斐光學技術有限公司

  • 蘇州研究級共聚焦顯微系統參數規格

    簡要描述：研究級共聚焦顯微系統usurf expert是一套*為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內Z高的要求。
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:56:52 對比

  • 蘇州定制化共聚焦系統規格

    簡要描述：NanoFocus surf custom量身定制的測量系統可以根據客戶的具體需求進行樣品平臺和軟件的定制，功能齊全，可以自動測量，能精確捕捉樣品的三...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:55:37 對比

  • 表面輪廓儀廠家

    簡要描述：表面輪廓儀為直角坐標式。X軸以我司自主研發生產的精密運動導軌為直線測量基準，以高精度進口光柵尺為X軸的計數元件
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:54:08 對比

  • 激光共聚焦顯微鏡

    簡要描述：NanoFocus μsurf explorer精密測量、表面分析系統機臺功能齊全，結構緊湊，性價比高，并擁有超高光學分辨率和Z全面廣泛的三維表面形貌...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:52:34 對比

  • 自動影像測量儀

    簡要描述：自動影像測量儀提供快速與精準的尺寸測量。此系統幫助您驗證關鍵尺寸以便管控生產品質的每一個環節。 OPTEK VideoMic VSAH 氣動懸浮分離軸...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:51:21 對比

  • 三坐標測量儀

    簡要描述：三坐標測量儀彩色CCD 數字成像攝像機采用的CCD感光芯片，彩色，CCD尺寸1/2“逐行掃描。可控制捕獲圖像的任意幅面與位置，小的幅面可以獲得更高的頻...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:49:35 對比

  • 高精度全自動影像測量儀

    簡要描述：OPTEK VideoMic VSMH 高精度全自動影像測量儀系列為非接觸式光學測量儀，提供快速與精準的尺寸測量。此系統幫助您驗證關鍵尺寸以便管控生產...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:47:42 對比

  • NanoFocus三維形貌輪廓儀

    簡要描述：μsurf系列三維形貌輪廓儀采用多孔共聚焦技術，結合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:45:44 對比

  • 自動影像儀

    簡要描述：OPTEK VideoMic VSMH自動影像儀 系列為非接觸式光學測量儀，提供快速與精準的尺寸測量。無摩擦、無阻力之全氣浮軸承與伺服馬達，實現自動運...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:44:28 對比

  • NanoFocus-共聚焦顯微鏡系統

    簡要描述：共聚焦顯微鏡系統：μsurf系列用來測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:42:54 對比

  • 粗糙度檢測儀

    簡要描述：粗糙度檢測儀適合現場使用，重量輕巧、操作簡單、測量精度高；大型的LCD文字表示，易于清晰讀取；檢出器的量測范圍擴大為350μm；檢出器的驅動部有退避功...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:41:40 對比

  • 二次元影像儀

    簡要描述：OPTEK VideoMic VSMH 系列二次元影像儀為非接觸式光學測量儀，提供快速與精準的尺寸測量。
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:40:09 對比

  • 2.5次元影像儀

    簡要描述：OPTEK VideoMic VSMH 系列2.5次元影像儀此系統幫助您驗證關鍵尺寸以便管控生產品質的每一個環節。帶有公差的報告，可以幫助您及時發現問...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:38:07 對比

  • 三維形貌輪廓測量-Solarius

    簡要描述：Atlas出色的易用性和穩定性使其成為一臺集快速精確于一身的表面測量設備，Atlas是應用于品保和過程控制的獨立模塊化表面3D表面三維形貌測量設備。
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:34:52 對比

  • 3D輪廓快速測量-Solarius

    簡要描述：穩定的結構設計以及高度的集成化使得Polaris3D輪廓快速測量系統能夠勝任在生產線及嚴苛的工業環境。
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:33:43 對比

  • 光學3D形貌檢測分析系統

    簡要描述：Solarius BGA光學3D形貌檢測分析系統快速3D表面測量，應用于半導體行業的高速測量設備。
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:32:33 對比

  • 厚度測量系統-Solarius

    簡要描述：Solarius研發的厚度測量系統使用兩個上下精確對位的非接觸式傳感器。這種測量方式快速準確，允許從上下兩側同時測量樣品的一層或多層的厚度。
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:31:27 對比

  • 模塊化表面三維測量解決方案

    簡要描述：當面臨各種定制的測量需求時，AOP模塊化表面三維測量系統是更具有靈活性的模塊化Solaris解決方案。
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:29:42 對比

  • 尼康研究用偏光顯

    簡要描述：LV100N POL / Ci-POL尼康研究用偏光顯高等級光學品質、操控性與穩定性的偏光顯微鏡。
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:27:58 對比

  • 電池尺寸全自動檢測-Solarius

    簡要描述：AMT全自動檢測系統——應用于電池生產的全自動測試解決方案
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2021/11/15 15:26:23 對比
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