x射線熒光譜分析儀數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
能量色散x熒光光譜儀高效超薄窗X光管
自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
國產X射線熒光光譜儀(XRF)液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然技術參數

產品型號：EDX 4500H
能量色散x熒光光譜儀產品名稱：X熒光分析儀
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
國產X射線熒光光譜儀(XRF)元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
x射線熒光譜分析儀重量：65Kg