由于被測件基底和被測表面粗糙度的變化,使測量結果相差懸殊,因而不能得到真實的鍍層厚度值。我們作了幾組試驗,分別示于圖1、圖2
試驗結果表明,當被測基底和被測表面粗糙度Rz值在6.3拜m(包括6.3戶m)以下時,對被測結果的影響可以忽略不計;當粗糙度R。值在6.3尸m以上時,對被測結果有明顯的影響。對于刀痕較寬的被測表面,其測量結果受測點位置的影響很大。對這樣的被測件,取4一5個測點的平均值作為測量結果,可以相對地減小其影響。表面粗糙度不同,直接改變了磁路間隙的大小。粗糙度數值越大,氣隙越大,增大了線圈到基底的距離,所以測量值增大。反之,測量值減小,更接近鍍層的真實厚度。

錫鉛合金鍍層測厚儀試驗表明,測量部位不同,測量結果的數值就不同,如靠近邊緣處和棱角處,由于磁路截面減小,渦流效應降低,測量結果數值增大。所以,應當避免在靠近邊緣和棱角處測量。應用領域
耐磨鍍層 如鍍Ni、鍍Cr、鍍Ni-W、Ni-Co、NiP合金
減摩鍍層 如鍍Sn、In、Sn-In合金
熱加工鍍層 如防滲碳鍍Cu、防滲氮鍍Sn
反光鍍層 如鍍Ag、光亮Ni等
防反光鍍層 如鍍黑Ni、鍍黑Cr等
導電鍍層 如鍍Au、Ag、Sn、Cu等
磁鍍層 如鍍Ni-Fe合金、Ni-Co合金等
抗氧化鍍層 如鍍Cr、鍍Pt-Rh合金
耐酸鍍層 如鍍Zn、Sn-Pb合金等
錫鉛合金鍍層測厚儀
鍍層測厚儀Thick 600采用下照式結構，儀器操作簡單，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求。