環(huán)保在線
掃描電子顯微鏡在金屬腐蝕與防護研究中的應(yīng)用實例
掃描電子顯微鏡（SEM）廣泛應(yīng)用于材料、醫(yī)學、地質(zhì)、生物、考古、石油、刑偵、造紙、紡織等研究領(lǐng)域。由于操作方便，制樣簡單，景深大，成像富有立體感，SEM已成為表面分析...
詳細介紹
主要參數(shù)：
1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV（均四檔可調(diào)）、EDX
2. 放大倍率：10×~100000×
3. 觀察模式：導體（TM4000Plus）、標準模式，消除電荷模式
4. 探測器：4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器 （TM4000Plus）
應(yīng)用領(lǐng)域：生命科學
材料科學
化學
電子制造
食品工業(yè)
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