詳細介紹
更強的信號,更豐富的細節
GeminiSEM 500 為您呈現任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節信息,尤其在低的加速電壓下,在避免樣品損傷的同時快速地獲取更高清晰度的圖像。
- 經優化和增強的Inlens探測器可高效地采集信號,助您快速地獲取清晰的圖像,并使樣品損傷降至更低;
- 在低電壓下擁有更高的信噪比和更高的襯度,二次電子圖像分辨率1 kV達0.9nm,500 V達1.0 nm,無需樣品臺減速即可進行高質量的低電壓成像,
- 為您呈現任意樣品在納米尺度上更豐富的細節信息;
- 應用樣品臺減速技術-(Tandem decel),可在1 kV下獲得高達0.8nm二次電子圖像分辨率;
- 創新設計的可變壓力模式-NanoVP技術,讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。