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上海百賀儀器科技有限公司>>掃描電鏡(SEM)>>XEIA3 model 2016TESCAN掃描電鏡XEIA3 model 2016

TESCAN掃描電鏡XEIA3 model 2016

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  • 型號 XEIA3 model 2016
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  • 廠商性質 經銷商
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更新時間:2024-04-07 13:44:04瀏覽次數:105

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產品簡介

TESCAN掃描電鏡XEIA3 model 2016是一款的能實現綜合性能的一體化FIB-SEM.它具備了各種強大的應用功能,如快捷的微納米FIB加工,超高分辨率可靠分析或復雜的3D重構分析等.

詳細介紹

主要特點
TriglavTM——新開發的配備TriglavTM物鏡及探測系統的高分辨掃描電子顯微鏡

  • 的無交叉模式及超高分辨率物鏡的組合,以獲得良好的成像模式
  • 可變的探測系統能同時獲得各種信號
  • 超高納米分辨率:0.7nm@15keV
  • 極限分辨率:1nm@1keV
  • 角度選擇BSE探測器能在低束能下獲得的形貌及元素襯度
  • 實時電子束追蹤技術TM能優化電子束性能
  • 傳統的TESCAN大視野光學器件™設計提供各種工作和顯示模式
  • EquiPower™提供了優秀的電子束穩定性
  • 新的肖特基場發射電子槍能使電子束流達到400nA以及實現電子束能量的快速改變
  • 的探測技術可應用于的失效分析過程中
  • 易損生物樣品的成像
  • 磁性樣品的成像
  • 優化的幾何鏡筒分布能夠獲得8’’晶圓分析手段(SEM探測,FIB微加工)
  • 3D電子束技術的立體成像
  • 友好的用戶界面,成熟的軟件模塊和自動化程序

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