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更新時(shí)間：2024-04-07 13:00:24瀏覽次數(shù)：150
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設(shè)計(jì)的X射線分光器可以實(shí)現(xiàn)高靈敏度·高精度分析
X射線取出角決定分析性能，52.5°高取出角更勝
圖為小孔穴中異物的分析實(shí)例。左下圖為鐵（Fe）、右下圖為鈦（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，對(duì)表面凹凸明顯的樣品也能進(jìn)行高精度分析。
從SEM觀察到開始分析，簡(jiǎn)便易行，大幅度提高工作效率。
同一顯示器上同時(shí)顯示高靈敏度的光學(xué)圖像和SEM圖像
在同一個(gè)顯示器上觀察光學(xué)圖像和SEM圖像。
通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。
只需點(diǎn)擊【SEM AUTO】圖標(biāo)，就可以根據(jù)事先設(shè)定的條件進(jìn)行SEM圖像的觀察。
只需選定束流目標(biāo)值即可快速、高精度地自動(dòng)設(shè)定束流。
通過聯(lián)動(dòng)控制，束流大小改變后也能保持圖像聚焦?fàn)顟B(tài)。
納米材料是指三維空間尺寸中至少有一維處于納米數(shù)量級(jí)（1~100 nm），或由納米結(jié)構(gòu)單元組成的具有特殊性質(zhì)的材料，被譽(yù)為“21世紀(jì)重要戰(zhàn)略性高技術(shù)材料之一"。當(dāng)材料的粒度大小達(dá)到納米尺度時(shí)，將具有傳統(tǒng)微米級(jí)尺度材料所不具備的小尺寸效應(yīng)、量子尺寸效應(yīng)、表面效應(yīng)等諸多特性，這些特異效應(yīng)將為新材料的開發(fā)應(yīng)用提供嶄新思路。
測(cè)量要求 掃描面板探針表面三維形貌，提取profile測(cè)量探針頂端的磨損情況
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