XAU-4C 鍍層膜厚分析儀性能優勢：
1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm²（加長測量時間可小至0.01mm²）
2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm
3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量。
4.*的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。
5.高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積25mm²探測器。
6.X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置。
XAU-4C 鍍層膜厚分析儀*的EFP算法
專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上，多元迭代開發出EFP核心算法，結合光路轉換的技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
RoHS檢測及標定
環保在線