XUL / XULM
在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時，XUL® 系列鍍層測厚儀是您的解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。
特性：
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憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位
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硬件選項豐富多樣，可滿足各種測量需求
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可選配微聚焦 X 射線管，從而可測量直徑僅為 100 µm 的微型結構和測量表面
應用：
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鉻鍍層，如：經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
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防腐蝕鍍層，如鋼材上的鋅鍍層
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印制電路板和柔性電路板上的鍍層
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接插件和連接器上的鍍層
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電鍍槽液分析
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