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詳細摘要： Olympus半導體顯微鏡系統支持檢測尺寸達300毫米的晶圓、平板顯示器、印刷電路板以及其他樣品的質量。

詳細摘要： 工業測量顯微鏡可以得到和光學顯微鏡相媲美的高倍率和高分辨率觀察能力。更重要的是，在明場觀察之外還可以對應暗場，偏光和微分干涉觀察。

詳細摘要： 自動化工業級原子力顯微鏡出眾的精確且精密納米測量在提高效率的同時，也為重復性與再現性研究帶來*高的分辨率和*低的儀表西格瑪值。

詳細摘要： 原子力顯微鏡包括許多*的功能，使其需要用顯微鏡處理大量不同種類樣品的試驗室和研究中心。其合理的價格和一系列強大的功能也使其成為高性價比的顯微鏡之一。

詳細摘要： 高性價比原子力顯微鏡的納米領域研究利器。*的三軸分離設計，既保證了XYZ三個方向無耦合效應，從原理上消除了平面扭曲誤差；

詳細摘要： TSI ChemLite Plus金屬分析儀采用 LIBS-OES 原理測定金屬元素成分。通過簡單的“選點-擊發"， 即只需將分析儀接觸或接近需要分析的金屬表面...

詳細摘要： GP550R手持拉曼分析儀具備化學物質結構和組成的分析能力，可應用于藥物分析、食品假檢測、藥殘留檢測、化工原料、生醫分析等領域，可以現場操作、程序簡單、檢測快速...

詳細摘要： PLA-20植物光照分析儀集成智能配置，一鍵式操作，一步完成測量和分析，數據實時讀取，廣泛應用于植物生長中的光照分析、監控、研究和交流等。

詳細摘要： TSI PolyMax塑料識別分析儀采用*的激光拉曼分析技術，采用簡單的打點即測的方式，取代了以往“燃燒聞味"（“Burn-and-Sniff"）這種粗略地識別...

詳細摘要： 霍爾效應測試儀自動或手動模式（電流控制磁場模式），修正慢樣品漂移電壓，特別是氧化鋅。

詳細摘要： 近紅外光譜塑料成分分析儀是一種全新的，*的全自動近紅外光譜測量系統，適用于各種非黑色塑料片、顆粒和碎片。所有測量結果可按需要分組，可用微型打印或電腦打印機打印完...

詳細摘要： 多角度標志逆反射系數測試儀易于各種反光材料的測試, 包括在EN 471和ANSI 107標準規范下的高亮度反光服測試。

詳細摘要： 鐵電材料測試儀具有頻率等級270khz在+ / - 100V的內置系統，實現對薄膜和塊體陶瓷快速而簡單的測試。