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浙江農業儀器有限公司
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地表植物覆蓋度分析儀,可快速測定植被表面參數、植物冠層信息、土壤養分信息、環境參數、植物病蟲害程度等。
TOP-2000冠層分析系統廣泛的運用范圍分析
任何物質都具有發射、吸收及反射電磁波的特性,這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發送或反射,物質的特性就能被確定。在實際應用時,僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區電磁波譜的某些波段。此波段區域可以用于量化各種脅迫導致的植物冠層發射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區的長波波段可以用于估計植物的生物化學成份。這些參數的測定可以使用植物多譜輻射計進行測定分析。
冠層分析系統又名植物多譜輻射計、地表植物覆蓋度分析儀,可快速測定植被表面參數、植物冠層信息、土壤養分信息、環境參數、植物病蟲害程度等。TOP-2000冠層分析系統是葉面施肥的研究、用于土壤改善和肥力的研究的好助手。該款儀器在農業測定過程中有廣泛的運用,具體在以下幾個領域中有廣泛的運用:植物生長調節劑的評估;客觀有效地對各種葉片病害的評級;監測應用除草劑的效果 ;用于土壤改善和肥力的研究;葉面施肥的研究;灌溉日程安排的研究;干旱對植物生長和產量的影響 ;不同基因型的特性;試驗地變異的評估
儀器詳情:http://www.ny-17.com/product/45.html
葉綠素測定儀產品信息:http://www.ny-17.com/
旋風磨:http://www.lspz17.com/
比色計:http://www.lwpydy.com/
種質資源庫:http://www.cnny17.com/
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