奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡BX53P偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究，都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡單而快捷。可以清晰地對焦后焦平面的干涉圖樣。勃氏鏡的視場光闌使其能夠始終獲取銳利而清晰的錐光圖像。

詳細(xì)介紹

奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡

奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究，都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。

用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡

采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡單而快捷。可以清晰地對焦后焦平面的干涉圖樣。勃氏鏡的視場光闌使其能夠始終獲取銳利而清晰的錐光圖像。

無應(yīng)力光學(xué)元件

UPLFLN-P無應(yīng)力物鏡得益于奧林巴斯*的設(shè)計和制造技術(shù)，將內(nèi)部應(yīng)力降到了zui低。這就意味著更高的EF值，從而可以得到的圖像反差。

種類豐富的補色器和波長板

提供了六種不同的補色器，用于測量巖石和礦物薄片的雙折射。測量光程差水平范圍從0到20λ。針對更方便的測量和高圖像反差，可以使用B e r e k 和Senarmont補色器，它們能在整個視場內(nèi)改變光程差級別。

各種補償板的延遲測量范圍
補償板	測量范圍	主要用途
U-CTB厚型Berek	0-11,000nm	較大的延遲測量（R*＞3λ）。（結(jié)晶、高分子、纖維、光彈性失真等）
U-CBE Berek	0-1,640nm	延遲測量（結(jié)晶、高分子、纖維、生物體組織等）
U-CSE Senarmont	0-546nm	延遲測量（結(jié)晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等）
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ	0-55nm	微小延遲測量（結(jié)晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ	0-20nm	微小延遲測量（結(jié)晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等
U-CWE2 石英楔子	500-2,200nm	延遲的近似測量（結(jié)晶、高分子等）