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詳細介紹
特點：
鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性價價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現性，能有效控制產品質量，節約電鍍成本。
- 鍍層測厚儀測量精度高、穩定性好，測量結果精確至μin
- 快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果
- 可定性、半定量和定量分析
- 進行貴金屬檢測，如Au karat評價
- 材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析
- 強大的數據統計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、
準直器規格 |
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探測器 | 正比例計數器 | ||||||
工作原理 | 對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析 | ||||||
安全性 |
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