Nicomp 380 Z3000系列納米粒徑與電位分析儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來，采用動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個電極可以使用成千上萬次。另外，采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度，亦幫用戶大大節省檢測成本。

納米粒徑與電位分析儀技術優勢

1、APD&PMT雙檢測器；

2、多角度檢測（multi angle）模塊；

3、可搭配不同功率光源；

4、雙列直插式電極和樣品池，可反復使用成千上萬次；

5、鈀電極；

6、精確度高，接近樣品真實值；

7、復合型算法：

 高斯（Gaussion）單峰算法與的Nicomp多峰算法自由切換

 相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換

8、快速檢測，可以追溯歷史數據；

9、結果數據以多種形式和格式呈現；

10、符合USP,CP等個多藥典要求；

11、無需校準；

12、復合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換

10、模塊化設計便于維護和升級；

（1）可自動稀釋模塊；

（2）搭配多角度檢測器；

（3）自動進樣系統（選配）；

380/MA多角度檢測器

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品，通過調節角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。