產品簡介 光學鏡片冷熱沖擊箱，芯片模組高低溫沖擊箱，用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的對象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產品改進的依據或參考。
詳細介紹 光學鏡片冷熱沖擊箱，芯片模組高低溫沖擊箱產品特點冷熱沖擊機規范要求：a.采用鋁片驗證機臺負載能力（非塑料負載）b.傳感器放置測試區而非風道口符合實驗有效性a.進行兩箱沖擊時測試區濕度符合規范要求b.可擴充待測品表面溫度控制駐留時間來縮短試驗時間c.可直接多項規范與試驗條件d.可執行低溫0度沖擊并省電e.可執行無鉛制程的錫須試驗光學鏡片冷熱沖擊箱，芯片模組高低溫沖擊箱 蓄熱式冷熱沖擊試驗箱規格表（Programmable Thermal Shock Tster）---- 不符合此規格◎符合此規格★可配增加此功能※可配增加LN2功能 試驗規范駐留溫度（℃）（exposure temp.）駐留溫度時間（Min）（exposure time）覆歸時間（recovery time）周期或次數試驗起始點備注適用機臺型號TS-（46/80/150/252/336）高溫室溫低溫高溫/低溫室溫SULMIL-STD-883E（Method 010.7）+85+10-----550≧10min≦15min----含駐留時間&轉換時間≦15minzui少10次低溫或高溫Temperature Cycling（轉換時間<1min）實驗過程若中斷超過總實驗之1/10次則實驗須重做◎◎----0+125+15◎◎----0-10+150+15◎◎----0+150+15-650◎.----0-10MIL-STD-202F（Method 07G）+83+3-25+10-55028g以下15～30 Min28～136g30Min136g～1.36Kg60Min1.36～13.6Kg120Min13.6~136Kg240MinMax.5 Min5 Min 以內5 cycle2550100低溫Transfer time不超過5 min◎◎◎0-3+125+3-650◎◎----0-5-5+125+3-650◎◎----0-5JIS C 0025IEC 68-2-14GB 2423.22+70+85+100+125±2±2±2±2室溫-5-10-25-40-55-65±3±3±3±3±3±33hr2hr1hr30min或無定義則以3hr定義手動轉移時間2～3Min為駐留時間之1/105 cycle除非有其它規格低溫AutoTransfer time不超過30 sec小試件Transfer time不超過10 sec★★★◎◎◎◎◎◎◎◎◎ ◎◎◎ ◎◎----IPC 2.6.7+70±2----0+015 Min----2 Min 以內100 cycle高溫（試驗結束點在高溫）Transfer time不超過2 min★★★-0-5+85+5-40+0◎◎◎-0-5+105+5-55+0◎◎．-0-5+105+5-65+0．．-----0-5+105+5 ．．-----0IPC 2.6.6+85+3-25+10-55+030 Min10-15Min 5 cycle ◎◎◎-0-5+125+3-5-65+0◎◎-----0-5BellcoreGR-1221-CORE+70±2---- ≧10min≦15min----含駐留時間&轉換時間≦15min500 cycleOR1000cycle ◎◎◎ +80±2◎◎◎ JESD22A104-A+125+10 -40+0≦15min
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