半導(dǎo)體溫度沖擊老化試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。我司生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)質(zhì)量好，價(jià)格優(yōu)，免費(fèi)保養(yǎng)，歡迎采購。

設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；、

半導(dǎo)體 溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

產(chǎn)品用途

該產(chǎn)品適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，考核和確定電工、電子、汽車電器、半導(dǎo)體、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能，使用的適應(yīng)性，適用于學(xué)校，工廠，研位，等單位.

半導(dǎo)體溫度沖擊老化試驗(yàn)箱機(jī)械鈑金結(jié)構(gòu)

全部功能采用計(jì)算機(jī)控制，系自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運(yùn)行的程序保持在目前的狀態(tài)下，可以臨時(shí)更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設(shè)置時(shí)間和參數(shù)，使制冷、加熱、提藍(lán)傳送切換，按設(shè)定值自動(dòng)進(jìn)行。

冷箱、熱箱獨(dú)立控制，箱門互相獨(dú)立，擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍（一箱三用）。

產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。

試驗(yàn)箱門與循環(huán)風(fēng)機(jī)，提藍(lán)傳動(dòng)等互鎖，保護(hù)操作者的安全，一旦打開箱門，循環(huán)風(fēng)機(jī)和提藍(lán)傳動(dòng)的電源會(huì)被自動(dòng)切斷。

在箱頂有標(biāo)準(zhǔn)引線孔管，方便用戶向箱內(nèi)引入傳感器線，檢測電纜等類型引線。

控制系統(tǒng)

低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。

溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘。

半導(dǎo)體 溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

規(guī)范要求：

a.采用鋁片驗(yàn)證機(jī)臺(tái)負(fù)載能力（非塑料負(fù)載）
b.傳感器放置測試區(qū)而非風(fēng)道口符合實(shí)驗(yàn)有效性
a.進(jìn)行兩箱沖擊時(shí)測試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
b.可擴(kuò)充待測品表面溫度控制駐留時(shí)間來縮短試驗(yàn)時(shí)間
c.可直接多項(xiàng)規(guī)范與試驗(yàn)條件