BNI PBS-504-001-K008現貨BALLUFF分配器
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北京普林塞斯科技有限公司
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斬波頻率穩定，精度高，是現代進行調制光學測量的部件，主要用于光纖放大器特性測量、光纖光柵傳感、光電子材料特性分析等研究從簡單的實驗到雙束和內部調制測量。SR540具有電壓控制輸入，四位數字頻率顯示，十段頻率控制，和兩種可選工作模式的參考輸出。4Hz—3.7kHz斬波頻率，單光束和雙光束調制，低相位抖動，和頻與差頻參考信號輸入。
光學斬波器
SR540光學斬波器：
斬波頻率穩定，精度高，是現代進行調制光學測量的部件，主要用于光纖放大器特性測量、光纖光柵傳感、光電子材料特性分析等研究從簡單的實驗到雙束和內部調制測量。SR540具有電壓控制輸入，四位數字頻率顯示，十段頻率控制，和兩種可選工作模式的參考輸出。4Hz—3.7kHz斬波頻率，單光束和雙光束調制，低相位抖動，和頻與差頻參考信號輸入。
光學斬波器SR540與鎖相放大器搭配起來使用，可組成一套光譜的微弱光信號檢測系統，也可以用在電學、磁學等方面測試中。
SR540光學斬波器 斬波頻率
4 Hz to 400 Hz (5/6 slot blade)
400 Hz to 3.7 kHz (25/30 slot blade)
頻率穩定性 250 ppm/°C (typ.)
SR540光學斬波器頻率漂移 <2 %, 100 Hz < f < 3700 Hz
相位抖動(rms)
0.2° (50 Hz to 400 Hz)
0.5° (400 Hz to 3.7 kHz)
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