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上海津崎電子科技有限公司
中國臺灣固緯(GW-instek)數字IC測試器GUT-6000ALoop測試自動搜尋IC編號功能開機自我偵測診斷功能過載保護功能可量測之IC種類超過1800種54/74系列TTL及高速CMOS4000及4500系列CMOS*大可測Pin數:28Pin功能描述測試范圍54/74系列TTL及高速CMOS
Loop 測試
自動搜尋 IC 編號功能
開機自我偵測診斷功能
過載保護功能
可量測之 IC 種類超過 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可測 Pin 數 : 28 Pin
功能描述 | |
測試范圍 | 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS, 4000 及 4500 系列 CMOS ,55 及 75 系列 TTL |
量測種類 | 約 1800 種 |
測試電壓 | 5V DC |
測試時間 | 高測試速度,平均 0.8 秒可完成一個 IC |
使用電源 | 交流 110V/220V ±10%, 50/60Hz |
物理特性 | |
長度 | |
寬度 | |
高度 | |
重量 | 約 |
標準附件 | 電源線 x 1, 操作手冊 x 1 |
持有證書 | CE |
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