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詳細介紹
德國尼克斯分體涂層測厚儀
型號：QNIX4200P
分體涂層測厚儀: 基體：Fe磁性基體，測量范圍：0-3000微米，探頭：分體探頭
QNIX4200P涂層測厚儀分體設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。QNix4200P為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。
QNIX4200P涂層測厚儀分體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。
QNix4200P為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。
在傳統QNix4200基礎上，為了滿足客戶不同的需要，特推出QNix4200P（分體式）機，探頭和主機之間通過一根探頭線連接起來，可以滿足特定測量環境（比如狹小空間）的需要，測量更方便，使用更人性化，性價比更高
QNIX4200P涂層測厚儀產品優點：
分體化設計，滿足不同環境的測量
只需調零，無需校準
體積小巧，操作方便
精度高
價格便宜
德國尼克斯分體涂層測厚儀技術參數
QNIX4200P涂層測厚儀技術參數 | |
磁性基體(Fe模式) | QNix4200P有此功能 |
測量范圍 | Fe:0-3000um |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%讀數 1000-3000um≤±3%讀數 |
小接觸面 | 10×10mm |
小曲率半徑 | 凸面：3mm 凹面：25mm |
小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
QNix® 4200P SONDEN
Sonde | Messbereich | Substrat | Abweichung | ||
|---|---|---|---|---|---|
QNix® 4200 3 mm | 3000 µm | Fe | +/- (3% +- 2 µm) | ||
QNix® 4200 5 mm | 5000 µm | Fe | 0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) | ||
Kleinste Messfläche | Kleinster Krümmungsradius | Kleinste Dicke des Substrats | |||
∅ 25 mm | Konvex: 5 mm | 200 µm | |||
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