陳霞
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當前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>物理性能檢測>>厚度檢測>> 軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2
陳霞
| 測量范圍 | 1 | 類型 | 數字式 |
|---|
日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2
高測量分辨率
由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。
即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。
基重測量
操作簡單（具有自動介電常數設置功能）
| 模型 | TOF-C2 * TOF-C的后繼機型 |
|---|---|
| 測量方法 | 非接觸式/電容式 |
| 測量對象 | 薄膜、粘性保護膜、防塵膜 |
| 測量原理 | 電容式 |
日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2
| 測量厚度 | ~ 500 微米 |
|---|---|
| 測量長度 | 10 至 10000 毫米 |
| 測量間距 | 1 毫米 ~ |
| 小顯示值 | 0.01微米 |
| 電源電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
| 工作溫度限制 | 5-40°C（測量時溫度變化1°C以內） |
| 濕度 | 35-80%（無冷凝） |
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