陳霞
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東莞市
更新時(shí)間:2025-05-02 17:47:56瀏覽次數(shù):2047次
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測量范圍 | 1 | 類型 | 數(shù)字式 |
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日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
這是使用β射線(beta射線)的測厚儀(膜厚計(jì))。以非接觸方式(β射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質(zhì)比較來計(jì)算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。
通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進(jìn)行測量。通常使用激光位移計(jì)作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計(jì)安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于激光位移計(jì)的精度,從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。
另一方面,在諸如β射線測厚儀之類的通過透射衰減來估計(jì)厚度的方法中,測量了空氣層-樣本-空氣層與滲透之間的衰減,但是樣本的衰減遠(yuǎn)大于空氣的影響,運(yùn)輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化,并且影響很小。因此,可以高精度地進(jìn)行測量。
β射線測厚儀的一般特點(diǎn)
我們的β射線測厚儀與常規(guī)β射線測厚儀相比的特點(diǎn)
采用
日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
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