陳霞
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當前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>其他設備>>電阻檢測儀>> NC-80MAP日本napson非接觸渦流法薄層電阻檢測
日本napson非接觸渦流法薄層電阻檢測NC-80MAP
日本napson非接觸渦流法薄層電阻檢測NC-80MAP
測量目標
半導體/太陽能電池材料相關（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導體相關的進樣樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請與我們聯xi）
測量尺寸
2-8英寸
（可選； 12英寸）
測量范圍
[電阻] 1m至200Ω? cm
（*所有探頭類型的總量程/厚度500um）
[抗剪強度] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總量程）
*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-??cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
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