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日本showadenshi非接觸式硅晶片測厚儀我們以非接觸方式測量硅晶片、藍寶石、玻璃等的厚度和形狀。我們提出并開發滿足客戶需求的測量儀器，例如光學干涉法和位移...

日本yamabun電池隔膜測厚儀TOF-4R05薄膜上形成的Cr、Ni、Cu的薄膜厚度分析

日本中央制作所電鍍厚度測量儀TH-11它是一種破壞性測量儀器，可用于電鍍的質量控制，并具有多種可測量的電鍍類型。

日本g-freude非接觸式中心壁厚檢測儀CT-Gauge DX自初的模型以來已經過去了七年。在此期間，我們克服了許多問題，對機械和軟件進行了全面改進，進一步擴...

日本yamabun薄膜接觸式測厚儀TOF-4R05由于是通過自動運輸測量，所以測量數據沒有個體差異。也可用于調整雷達圖上的充氣膜。由于測量是通過夾入法進行的，因...

日本densoku鍍層測厚儀GCT-311改進的可操作性和增強的功能通過使用個人計算機，提高了可操作性并增強了功能。易于數據處理使用Windows規范可以輕松完...

日本富士fujiwork在線式薄膜測厚儀FT-A200FT-A200測量范圍/ 10μm至200μm * 2FT-A200R測量范圍/ 3μm至100μm * ...

日本富士fujiwork薄膜連續測厚儀FT-A2001線性度是顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率。

日本daiei針織物測厚儀FS-60DS可以安裝多種類型的壓腳和負載重量，以滿足各種標準，其中測量的壓力和壓腳直徑因測量對象而異。

日本daiei紡織品測厚儀FS-60DSCR-10A型主要適用于一般機織物和地板覆蓋物，FS-60DS型適用于毛織物和針織物。

日本daiei大榮科學測厚儀FS-60DS一種測量織物、地板覆蓋物、薄膜、橡膠、聚氨酯泡沫等厚度的設備。

日本sasaki koki半導體用金屬非接觸式測厚儀OZUMA22精確控制上、下測量噴嘴的背壓，噴嘴定位使噴嘴與被測物體之間的間隙恒定，并與預先用基準規校準的值...

日本sasaki koki半導體晶體非接觸式測厚儀OZUMA22OZUMA 更新了用于半導體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬...

日本olympus磁性測厚儀Magna-Mike 8600瑪格納-麥克8600是一個簡單的磁性測厚儀，可以重復地測量非磁性材料以高準確度的壁厚。操作非常簡單，小...

日本olympus超聲波測厚儀38DL PLUS創新的 38DL PLUS 預示著超聲波測厚儀的新時代。該手持式測厚儀適用于大多數超聲波壁厚測量的檢測應用，可與...

日本olympus超聲波測厚儀 45MG45MG是一款高性能超聲波測厚儀，除了標準的腐蝕測厚功能外，還支持各種軟件選項的精密測厚。它是一種一體化解決方案，通過支...

日本olympus超聲波測厚儀27MG超聲波測厚儀27MG可以從一側準確測量金屬管道、罐體和其他易受腐蝕和侵蝕的設備結構的壁厚減薄。它僅重 340 克，符合人體...

日本YAMABUN山文電氣在線激光測厚裝置NME-RM, NSM-RMPP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇以非接觸方式測量厚度而非基重座椅制造過程中的全寬測量...

日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M測量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動通過自動傳輸機制實現穩定的測量重復性測量數據可自動...

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S實現高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）不易受溫度變化的影響可...