超聲波測厚儀產品性能

• 可與雙晶和單晶探頭兼容。 
• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。 
• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。 
• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。 
• 內部氧化層/沉積物軟件選項。 
• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。 
• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。 
• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。 
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 
• 厚度、聲速和渡越時間測量。 
• 差分模式和縮減率模式。 
• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。 
• 帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。 
• 用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。 
• 設計符合EN15317標準。

超聲波測厚儀產品應用

對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測量。

• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。

• 在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。

• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

• 多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。

• 測量厚度、聲速或渡越時間。

• 帶有默認設置和自定義設置的自動調用應用簡化了厚度測量操作。