Exquis T4直讀光譜儀，采用了特殊的光室結構設計，光室密封氬氣循環系統，CMOS全譜接收技術，全元素分析范圍等特點。融合了多項自主創新技術,精工于內、大道至簡,針對不同客戶的需求，而推出的這款充氬式全譜直讀火花光譜儀，可滿足Fe、Al、Cu、等多種金屬及其合金的材質分析要求。
 
1鑄造 1冶金 1機械 1爐前 1金屬加工 1金屬材料質量鑒定
 

全譜譜線圖
 
1CMOS全譜分析技術
 
豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準確度；
 
基于全譜測量的數據，能夠正確區分背景和譜線，有效提高測量精度；
 
智能選擇合適的靈敏線，通過多譜線結合技術，實現低中高含量段的檢測需求；
 
基于全譜測量數據的多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現精確測量。
 
1
 
CMOS線陣傳感器
 
1的實時智能漂移校正技術
 
在分析過程中，適時進行光譜漂移校正，增強儀器穩定性；
 
減少標準化校正次數，延長校正周期；
 
自動完成儀器校正，操作更加簡便。
 

 譜線漂移校正
 
1的CMOS檢測技術優于CCD
 
CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應速度；
 
CMOS相比CCD具有更好的線性度；
 
CMOS相比CCD具有的紫外光敏感度，在深紫外區如碳、硫、磷、砷、氮等短波元素的檢測更準確。
 

5 創CMOS全譜接收技術；
 
5 光室密封氬氣循環系統；
 
5 人性化一鍵激發，一鍵緊急停止；
 
5 一體化光室光學系統設計；
 
5 可編程脈沖全數字光源技術；
 
5 可分析Fe、Al、Cu、等多種基體；
 
5 波長范圍165-530mm,可滿足更多元素的分析要求。