CM4高溫日射強度計可在-40℃~150℃的溫度環境下對太陽輻射或人造光輻射進行測量。CM4zui大輻照度可達4000W/ m²，所有組件均經過特殊設計與嚴格挑選，其標配的10m數據線也具有耐高溫能力，確保了儀器在高溫與高輻照條件下的穩定工作。
CM4既內置有一階溫度補償，也可以采用Pt-100溫度傳感器來獲知測量環境信息，以進行數據修正，提高測量精度。
荷蘭Kipp & Zonen CM4高溫日射強度計主要技術參數
ISO標準等級：二級（Second Class）
光譜范圍：300~2800nm
響應時間：<2.5s（63%）；<8s
靈敏度：4~10μV/W/m²
熱輻射偏移（200 W/m2時）：<15W/m2
溫度偏移（5K/h）：<4W/m2
非穩定性（年變化）：<1%
非線形誤差（100~1000W/m2）：<3%
方向誤差（≤80°1000 W/m2）：20 W/m²
光譜選擇性（350~1500nm）：<3%
zui大輻照度：4000W/ m²
溫度響應：<3%
傾斜誤差（0~90°,1000W/m2）：<1%
視角：180°
工作環境：-40℃~150℃，0~99%RH
防護等級：IP67
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