. Loop 測(cè)試
. 自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能
. 開(kāi)機(jī)自我偵測(cè)診斷功能
. 過(guò)載保護(hù)功能
. 可量測(cè)之 IC 種類超過(guò) 1800 種
. 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
. 4000 及 4500 系列 CMOS
. zui大可測(cè) Pin 數(shù) : 28 Pin
GUT-6000A數(shù)位IC測(cè)試器 規(guī)格
測(cè)試范圍 | |
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS | |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
55 及 75 系列 TTL | |
量測(cè)種類 | |
約 1800 種 | |
測(cè)試電壓 | |
5V DC | |
測(cè)試時(shí)間 | |
高測(cè)試速度,平均 0.8 秒可完成一個(gè) IC | |
使用電源 | |
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz | |
附件 | |
電源線 x 1, 操作手冊(cè) x 1 | |
尺寸及重量 | |
335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm 約 1.5 公斤 |