一、BTX-II儀器簡介

       奧林巴斯BTX-II臺式XRF/XRD分析儀是由美國Innov-X研發生產的一款臺式XRD/XRF設備，其主要涉及宗旨是對各種類型的粉末樣品進行分析。將某個樣品的衍射圖案特性與XRD款物圖案數據庫中的圖案相比較，進行相位識別。在相位識別過程中，同時可使用XRF技術不僅可以方便篩查操作，還可解決罕見的不確定性問題。可以說，它是XRD 家族中一款的產品，采用的2D-XRD 技術，與傳統大型臺式1D-XRD 相比較，具有原理構造上的創新，其表現在：

1）奧林巴斯BTX-II臺式XRF/XRD分析儀采用透射衍射幾何技術：即X 光束直接穿透樣品，探測器接收的是透過樣品的衍射光束而非傳統臺式機探測器接收的反射光束。

2）采用大面積二維CCD 探測器而非傳統一維計數器，探測面積為1024x 256 pixels，且能同步進行XRD 和XRF 信息采集。

3）采用樣品振動系統（NASA ），不使用傳統測角儀，在樣品檢測過程中，X 光束和探測器均靜止不動，而所檢測樣品通過磁性連鎖裝置高速振動，以獲取衍射信息。

二、BTX儀器結構系統

1、X 光管、X 射線準直器、探測器、冷卻系統、樣品振動系統構成了整個BTX 系統。

2、X 光管為微焦X 射線管，靶材標準配置為Cu或Co，并可根據檢測樣品情況選擇使用Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、Wu 等。管電壓為30kV，管電流為0.33mA,功率為10W。低功率管壓保證了射線管長使用壽命，正常使用至少達10 年。微焦X射線管保證了X 射線良好的聚焦性。X 射線準直器采用針孔準直系統，替代傳統大型臺式機的光學校準部件，光柵作用*。

3、探測器采用二維CCD 探測器，探測面積1024 x 256 pixels，該探測器可有效識別衍射光束和熒光光束，對能量和位置極度靈敏，可同步進行XRD 及XRF 分析。

4、冷卻系統采用Peltier電子制冷，可有效保證探測器正常工作溫度（-45°C）。5、樣品振動系統（NASA ）替代傳統測角儀，該裝置使得樣品在樣品室中以6000HZ 的頻率振動，保證樣品檢測的多角度，同時提高檢測樣品的統計量。