介電常數(shù)介電損耗測(cè)試儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用ZJD-A/B或ZJD-C數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

詳細(xì)介紹

一、概述：

ZJD-A高頻介電常數(shù)介電損耗測(cè)試儀系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、ZJD-A/B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入ZJD-A/B或ZJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。介電常數(shù)介電損耗測(cè)試儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用ZJD-A/B或ZJD-C數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

二、主機(jī)及夾具參數(shù)：

序號(hào)	項(xiàng)目	參數(shù)
1	型號(hào)	ZJD-A
2	信號(hào)源	DDS數(shù)字合成信號(hào)
3	頻率范圍	10KHZ-110MHZ
4	信號(hào)源頻率覆蓋比	11000:1
5	采樣精度	11BIT
6	信號(hào)源頻率精度	3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)
7	Q值測(cè)量范圍	1～1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
8	Q值量程分檔	30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
9	Q分辨率	4位有效數(shù)，分辨率0.1
10	Q測(cè)量工作誤差	＜5%
11	電感測(cè)量范圍	1nH～8.4H,；分辨率0.1
12	電感測(cè)量誤差	＜3%
13	電容直接測(cè)量范圍	1pF～2.5uF
14	調(diào)諧電容誤差分辨率	±1pF或＜1%
15	主電容調(diào)節(jié)范圍	30～540pF
16	諧振點(diǎn)搜索	自動(dòng)掃描
17	自身殘余電感扣除功能	有
18	大電容值直接顯示功能	有
19	介質(zhì)損耗系數(shù)精度	萬(wàn)分之一
20	介電常數(shù)精度	千分之一
21	LCD顯示參數(shù)	F,L,C,Q,LT,CT,波段等
22	準(zhǔn)確度	150pF以下±1pF；150pF以上±1%
23	Q合格預(yù)置范圍	5～1000聲光提示
24	環(huán)境溫度	0℃～+40℃
25	消耗功率	約25W
26	電源	220V±22V，50Hz±2.5Hz
27	極片尺寸	38mm/50mm(二選一)
28	極片間距可調(diào)范圍	≥15mm
29	材料測(cè)試厚度	0.1-10mm
30	夾具插頭間距	25mm±0.01mm
31	夾具損耗正切值	≤4×10－4 （1MHz）
32	測(cè)微桿分辨率	0.001mm
33	測(cè)試極片	材料測(cè)量直徑Φ38/50mm，厚度可調(diào) ≥ 15mm