詳細介紹 產品名稱： 二探針測試儀 儀器型號： LY.4-7 產地： 關鍵字： 測試儀 產品描述 LY.4-7型二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器。 儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。 儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。 本儀器適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。技 術 指 標 ： 測量范圍 電阻率：10-4～105 Ω.cm； 分辨率：10-3Ω.cm；恒流源 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續可調數字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV； 分辨力：10μV； 輸入阻抗：>1000MΩ； 精度：±0.1% ； 顯示：四位半紅色發光管數字顯示；極性、超量程自動顯示；二探針探頭基本指標 間距：3mm（可選其它間距）； 針間絕緣電阻：≥1000MΩ； 機械游移率：≤0.3％； 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm； 探針壓力：5～16 牛頓(總力)；二探針探頭應用參數 (見探頭附帶的合格證)模擬電阻測量相對誤差( 按JJG508-87進行) 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字測試架 配置T-2A測試架，兩端電極Ф8mm～20mm（可選其他尺寸訂做）計算機通訊接口 并口標準使用環境 溫度：23±2℃； 相對濕度：≤65%； 無高頻干擾； 無強光直射；
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