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PCB鍍層測厚儀

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更新時間：2022-03-20 09:48:46瀏覽次數：199次

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深圳市天禧儀器有限公司

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產品簡介

PCB鍍層測厚儀、金鈀鎳測厚儀、金鈀銠測厚儀、FPC鍍層測厚儀

詳細介紹

（一）產品優勢

鍍層檢測，最多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高（見以下產品特征詳述）。
平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達110*110*5mm。（固定臺可選）
激光定位和自動多點測量功能。
可檢測固體、粉末狀態材料。
運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低。
可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件升級。
無損檢測，一次性購買標樣可使用。
使用安心無憂，售后服務響應時間24H以內，提供保姆式服務。
可進行RoHS檢測（選配功能），應對新版中華人民共和國RoHS檢測要求，歐盟及北美RoHS檢測等要求標準，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。
環保RoHS分析功能，實現鍍層、環保和成份分析同時檢測(部分機型具有全部功能)；
具有遠程服務功能，在客戶請求的情況下，可遠程進行儀器維護；

（二）產品特征

1. 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）

2.計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換器）

3.Multi Ray. 運用基本參數法（FP）軟件，對樣品進行精確的鍍層厚度分析，可對鍍液進行定量分析。

MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄膜鍍層厚度測量

相對（比）模式無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應用 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]

當化金厚度在2u〞-5u〞時，測量時間為40S
準確度規格 ±5%
精確度規格 <5%（COV變動率）

當化金厚度 >5u〞時，測量時間為40S
準確度規格 ±5%

精確度規格 <5%（COV變動率）
當化銀厚度在5u〞-15u〞時，測量時間為40S

準確度規格 ±8%

精確度規格 <7%（COV變動率）

測化錫時，測量時間為40S

準確度規格 ±8%

精確度規格 <6% （COV變動率）

準確度公式：準確度百分比=（測試10次的平均值-真值）/真值*99%
精確度COV公式：（S/10次平均值）*99%

基本配置：

X射線管：高穩定性X射線管

微焦點x射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口，光斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

50kV，1mA。高壓和管流設定為應用程序提供性能。
探測器：SDD/SI-PIN探測器（可選）

能量分辨率：125±5eV/149eV
濾光片/可選

初級濾光片：Al濾光片，自動切換

7個準直器：0.1mm、 0.2mm、 0.4mm、0.5mm、1mm、4mm（可選）
平臺：軟件程序控制步進式電機驅動X-Y-Z軸移動大樣品平臺。
激光定位、簡易荷載負載量為8公斤
軟件控制程序進行持續性自動測量