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北京瑞頂環境科技有限公司
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HemiView植物冠層分析系統一、簡介HemiView提供詳細的冠層半球照片分析，計算冠層結構參數和太陽輻射指數，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況；預測冠層下的輻射水平，適合高而不規則的樹冠測量，測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平，計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等
HemiView植物冠層分析系統
一、簡介
HemiView提供詳細的冠層半球照片分析，計算冠層結構參數和太陽輻射指數，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況；預測冠層下的輻射水平，適合高而不規則的樹冠測量，測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平，計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。
半球形攝影是分析植物冠層的常用方法，特別是高的、不規則的冠層，如森林。典型的照片是在統一的天空條件下拍攝的，從植物樹冠下向上看，使用180°魚眼鏡頭。自調平像機支架確保像機保持水平。
二、工作原理
通過180度魚眼鏡頭和數碼相機從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數碼相機的清晰影像載入軟件，進行分析處理。
三、系統組成
HemiView冠層分析系統由HemiView軟件、帶有魚眼鏡頭的數碼單反相機、自調平相機支架和一系列附件組成。
這款相機提供了2020萬像素分辨率。重量輕的自調平架簡化了獲得正確定向照片的過程。它提供由閃光槍發射的LED標記，自動將北/南方向標記放置到每張拍攝的圖像中。
可增配BF5輻射傳感器，用于監測PAR的直接和擴散。在研究中，這些數據可用于計算HemiView使用的太陽模型所需的透射率和擴散比例值。
四、儀器特點
時間序列計算光照示例圖
五、技術指標
| 圖像文件類型 | BMP、JPEG、TIF、Photo CD | 數據輸出 | Excel兼容表格格式 |
| 圖像分辨率 | ≥512×512，≤4368×2912（和數碼相機有關） | 總像素 | 1510萬像素 |
| 鏡頭變形 | 能確定多種相關天頂角和光線距離 | 魚眼透鏡視角 | 180° |
| 直射光模型 | 簡單的空氣傳遞，由用戶設置 | 存儲容量 | 2GB，可擴展 |
| 散射光模型 | 統一或標準陰天 | 可伸縮單臂支架高度 | 0.69~1.66米 |
| 三腳架高度 | 1.73米 | 操作溫度 | +5~+55℃ |
輸出參數：
天空幾何：質心，立體角和像素計算用于每個天空扇區；
間隙粒級：比例的可見天空扇區；
葉面積指數：天空扇區或全部數值；
太陽輻射：直射和散射，冠層上方和下方，能量或質量單位；
位置因數：直接，間接（散射），全部；
時間序列和Sunflecks：可查看日期的日盤（半陰影作用）和太陽輻射，自定義采樣間隔或sunfleck順序
可選余弦修正：可用任何方位的截取表面；
全部數值：大部分輸出能將天空扇區表格化，整合到單個全天空或年數值中。
產地：英國
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