掃描電鏡原理:

掃描電鏡利用高能量電子束轟擊樣品表面，激發出樣品表面的各種物理信號，再利用不同的信號探測器接受物理信號轉換成圖像信息，可對陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進行形貌觀察和成分分析。

掃描電鏡檢測項目：

SEM：形貌觀察，利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來成像。

EDS：成分分析（半定量），通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。

樣品要求：

1.試樣為不同大小的固體（塊狀、薄膜、顆粒），并可在真空中直接進行觀察。

2.試樣應具有良好的導電性能，不導電的試樣，其表面一般需要蒸涂一層金屬導電膜

掃描電子顯微鏡的應用和用途

 掃描電子顯微鏡的應用非常廣泛，從金屬學研究、礦物學研究、環境科學到微納米科技等領域，都有其的應用。以下是一些主要的掃描電子顯微鏡的用途：

 1. 表面形貌觀察：SEM的用途是觀察和分析物質表面的形貌。SEM圖像可以揭示材料表面的微小結構，包括表面顆粒的大小、形狀和間距等。

2. 元素分析：SEM配備的能譜儀（EDS）可以分析樣品中各種元素的分布和含量。通過觀察不同區域的元素分布，可以推斷出材料的成分和可能的制備過程。

3. 微米和納米尺度研究：SEM在納米科技中起著至關重要的作用,它可以提供高分辨率的圖像，顯示納米級別結構的細節。

4. 失效分析：SEM掃描電鏡檢測在電子工業、汽車工業和其他高科技產業中的失效分析中具有廣泛應用。它可以揭示材料失效的原因，例如斷裂表面上的微小結構。

5. 環境科學：SEM掃描電鏡檢測被廣泛應用于土壤、水樣和其他環境樣本的研究。它可以揭示土壤顆粒的形狀、大小和分布，以及可能的污染物。

6. 生物醫學：SEM在生物學和醫學研究中具有廣泛的應用，可以揭示細胞表面的結構和化學成分，以及組織形態學的細節。