掃描電鏡是一種用途廣泛的科學研究儀器,是通過電子束來成像的,，其放大倍數可達幾十萬倍，分辨率可達納米級別，是形貌和成分分析領域極其重要的一種工具。

掃描電鏡測試原理:

掃描電鏡利用高能量電子束轟擊樣品表面，激發出樣品表面的各種物理信號，再利用不同的信號探測器接受物理信號轉換成圖像信息，可對陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進行形貌觀察和成分分析。

掃描電鏡測試項目：

SEM：形貌觀察，利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來成像，可放大倍率5-100萬倍 。

EDS：成分分析（半定量），通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息，測量Be及以上元素。

樣品要求：

1.試樣為不同大小的固體（塊狀、薄膜、顆粒），并可在真空中直接進行觀察。

2.試樣應具有良好的導電性能，不導電的試樣，其表面一般需要蒸涂一層金屬導電膜

掃描電鏡的運用：

掃描電鏡相關測試常和切片技術結合一起做相關測試,如:

IMC觀察

錫須觀察

表面成分分析

表面異物分析

顆粒物成分分析

微觀尺寸量測

金屬鍍層/涂層厚度檢測