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便攜式精密露點儀

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產品型號FT-35型

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更新時間：2018-05-14 09:00:00瀏覽次數：1212次

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產品簡介

FT35P露點儀采用VAISALA公司提供的DMT242高分子薄模式探頭,主要適用干燥氣體微水份檢測,探頭可防結露及油氣污染.自動校準程序確保儀器具有*穩定性.技術上克服了幾乎所有現場測量的不利因素它從內核到外觀都體現了*科技及超前設計。

詳細介紹

FT35P露點儀采用VAISALA公司提供的DMT242高分子薄模式探頭,主要適用干燥氣體微水份檢測,探頭可防結露及油氣污染.自動校準程序確保儀器具有*穩定性.技術上克服了幾乎所有現場測量的不利因素它從內核到外觀都體現了*科技及超前設計。廣泛適用于電力,化工,航空,冶金,醫藥,食品等行業.
檢測快捷: +60 ~ -20℃ ≤0.5 min
-20 ~ -45℃ ≤1.2 min
-45 ~ -80℃ ≤5 min
穩定: 校準功能自動修正微小漂移量,確保優異的重復性和穩定性.

技術參數：
　　測量范圍：-80°C......+20°C 　-60......+60°C
　　電　　源：額定24V DC(9-32V DC)
　　通　　信： RS232, DewPro協議
　　傳感元件：平面金/氧化鋁電容原理
　　*再校準周期：12-24個月,按應用和所需精度
　　校準精度：20°C(68°F)環境溫度時2°C(3.6°F)露點
　　可重復性：±1°C(1.8°F)
　　zui大相對濕度：露點溫度＞0°C(32°F)時50%
　　溫度系數：＜0.2°C/°C(＜0.2°F/°F)
　　環境和保存溫度： -40°C(-40°F)至+50°C(+122°F)
　　額定操作溫度： -20°C(-4°F)至+40°C(+104°F)
　　氦泄漏率： 10mbarl/s
　　氣體zui大速度： 1巴時50m/s 10巴時5m/s
　　預防塵粒：帶10微米過濾器的保護蓋
　　重　　量： 4Kg