2 Bartnikas, R., 第3章, “高電壓測(cè)量,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能,測(cè)量技術(shù), 第IIB卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas, Editor, ASTM STP 926, ASTM, Philadelphia, 1987。
3 Nelson, J. K., 第5章, “固體的電介質(zhì)擊穿,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, 第IIA卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas和R. M. Eichorn,Editors, ASTM STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983。
5 該歷史標(biāo)準(zhǔn)的批準(zhǔn)版本見
6 可從電工學(xué)協(xié)會(huì)(IEC)獲得,地址:3 rue de Varembé, Case postale 131, CH-1211, Geneva 20,
7可從美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì) (ANSI)獲得,地址:25 W. 43rd St.,4th Floor, New York, NY 10036,