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TA620-測量平臺超聲波測厚儀

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上海遂歐儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

TA620-測量平臺
TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉(zhuǎn)動(dòng)，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。
TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設(shè)置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。

詳細(xì)介紹

TA620-測量平臺

TA620測量平臺,微調(diào)平臺

TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉(zhuǎn)動(dòng)，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。
TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設(shè)置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。
TA630微調(diào)平臺，X—Y平面轉(zhuǎn)角，俯仰角。
TA631微調(diào)平臺，X—Y平面轉(zhuǎn)角。
TA630、631都用來較小幅度的，粗確調(diào)整被測量工件的位置，提高測量精度。

TA620測量平臺,微調(diào)平臺