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薄膜的厚度是否均勻一致，是檢測薄膜各項性能的基礎(chǔ)。很顯然，倘若一批單層薄膜的厚度不均勻，不但會影響到薄膜各處的拉伸強(qiáng)度、阻隔性能等指標(biāo)，更會影響薄膜的后續(xù)加工。此外，對產(chǎn)品的厚度采取合理的控制，不但能夠提高產(chǎn)品質(zhì)量，還能降低材料的消耗，提高生產(chǎn)效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預(yù)設(shè)值一致，厚度偏差是否在范圍之內(nèi)，這些都稱為薄膜是否能夠具有某些特性指標(biāo)的重要前提。薄膜厚度測量是薄膜制造業(yè)的基礎(chǔ)檢測項目之一。

 

　　但是，市面上的薄膜測厚設(shè)備種類繁多，您在選購上面是否選擇了合適的測厚儀呢？

 

接觸式和非接觸測厚儀的區(qū)別！

 

1、常用非接觸測厚儀主要為激光測厚儀和電渦流測厚儀 ，顧名思義就是測量儀器與被測物體非接觸測量 。

2、接觸測厚儀主要為機(jī)械式測量是需要通過點與點或面與面接觸后通過位移差來測量厚度。

 

 

薄膜、薄片厚度測試又該如何去選擇？

 

1、非接觸式測厚設(shè)備對測試試樣都有一定的選擇性，例如激光式測厚儀在適合的領(lǐng)域中能達(dá)到較高的測量精度，但用于檢測表面有著不同光澤度的試樣時會有較大的測試誤差，同樣該方法的測厚儀對試樣是否透明以及材料表面平整度（薄膜表面看似平整，放大后都是呈現(xiàn)一定凹凸）也有著比較強(qiáng)的選擇性。電容或電渦流式的測厚儀對金屬及非金屬的測試有著較大的誤差。總之，非接觸式測厚儀都有著自己擅長的檢測領(lǐng)域，在薄膜和金屬方面測試數(shù)據(jù)還是不能滿足的。

 

2、機(jī)械式測厚儀是一種接觸式測厚設(shè)備，多采用高精度傳感器，因為它的測試只和微小位移有關(guān)，所以對試樣沒有選擇性。按照薄膜厚度國標(biāo)GB/T6672要求測量面必須保證對薄膜材料表面施加0.1N-0.5N負(fù)荷壓力，機(jī)械式測厚儀的測試精度主要取決于位移傳感器的精度，環(huán)境溫度和風(fēng)速會影響傳感器的精度，因此必須在實驗室環(huán)境內(nèi)使用。

濟(jì)南新準(zhǔn)儀器的CHY-C2A測厚儀是自主研發(fā)的一款高精度機(jī)械式測厚儀，分辨率高達(dá)0.1μm，自投放市場已取得了不俗的銷售業(yè)績，無論重復(fù)性和測量精度都得到了市場一度好評。