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西安天光測控技術有限公司
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能測 36類“半導體分立器件"“電子元件"諸如 Diode、BJT、MOSFET、IGBT、SCR、光耦、繼電器、IC、電流傳感器、保護器等；※ 測試項目包括擊穿、漏電、增益、導通、關斷、觸發、保持還可測試結電容，如Cka,Ciss,Crss,Coss；
元器件直流參數測試系統 & 半導體分立器件靜態參數測試篩選系統 & 晶體管圖示儀 & 晶體管測試儀
能測試很多電子元器件的靜態直流參數
覆蓋 7 大類別 26 分類，包括“二極管類"“三極管類"“保護類器件"“穩壓集成類"“繼電器類"“光耦類"“傳感監測類"等品類的繁多的電子元器件。高壓源 1400V（選配 2KV），高流源 40A （選配 100A,300A,500A）柵極電壓 40V。分辨率至 1mV / 30pA 精度可至 0.5%
除靜態參數還可測試“結電容"，支持“脈沖式自動加熱"和“分選機連接"
※ 半導體分立器件靜態參數測試儀
※ 晶體管圖示儀
※ 元器件參數測試儀
※ 半導體圖示儀
※ 半導體靜態特性分析儀
※ 半導體分立器件靜態參數測試篩選系統
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