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西安天光測控技術有限公司


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半導體測試儀 MOS管IGBT等器件靜態參數

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參  考  價:199
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號

    ST-SP 2000

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質

    生產商

  • 所在地

    西安市

規格

±2.5mV~2KV / ±1nA~100A 199元 99 件 可售

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更新時間:2023-09-13 11:30:57瀏覽次數:1551次

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經營模式:生產廠家

商鋪產品:43條

所在地區:陜西西安市

聯系人:趙女士 (銷售經理)

產品簡介

半導體測試儀 MOS管IGBT等器件靜態參數
本系統可自動生成功率器件的I-V曲線,也可根據客戶的實際需求設置功能測試,直接讀取數顯結果。系統在失效分析,IQC來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應用。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立,保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來,數據捕獲的曲線可導

詳細介紹

半導體測試儀 MOS管IGBT等器件靜態參數


品牌 :天光測控型號 :ST-SP 2000
加工定制 :類型 :分立器件測試儀
測量范圍 :電壓2000V,電流100A精確度 :正負%0.1精度
儀表尺寸 :200*100*80mm適用范圍 :分立器件測試儀
儀表重量 :5kg工作電源 :220v
規格 :半導體參數測試儀


產品詳情
Product details

1系統配置簡介

1.1 系統概述

天光測控ST-SP 2000是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統,本系統可自動生成功率器件的I-V曲線,也可根據客戶的實際需求設置功能測試,直接讀取數顯結果。系統在失效分析,IQC來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應用。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立,保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來,數據捕獲的曲線可導入EXCEL等格式進一步分析研究,是一款高效多功能的半導體測試設備。

半導體測試儀 MOS管IGBT等器件靜態參數

本系統使用方便,只需要通過USB或者RS232與電腦連接,通過電腦中友好的人機界面操作,即可完成測試。并可以實現測試數據以EXCEL和WORD的格式保存。系統提供過電保護功能,門極過電保護適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設備狀態和測試結果提供了可靠地保證。


1.2 天光測控ST-SP 2000測試儀指標

技術指標

主極參數

控制極參數

指標

標配


指標

標配


主極電壓:

1mV-2000V


控制極電壓:

100mV-20V


電壓分辨率:

1mV


電壓分辨率:

1mV


主極電流:

0.1nA-100A

可擴展1250A

控制極電流:

100nA-10A


電流分辨率:

0.1nA





測試精度:

0.2+2LSB





測試速度:

0.5mS/參數






1.3  天光測控ST-SP 2000測試系統是一套高速多用途半導體分立器件智能測試系統,它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力,可真實準確測試下列各種大、中、小功率的半導體分立器件。

  


測試范圍 / 測試參數


序號

測試器件

測試參數


01

絕緣柵雙*功率晶體管

IGBT

ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;

VGEON;VF;GFS


02

MOS場效應管

MOS-FET

IDSS;IDSV;IGSSF;  IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;

VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS


03

J型場效應管

J-FET

IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;

IDSS;GFS;VGSOFF


04

二極管

DIODE

IR;BVR ;VF


05

晶體管

(NPN型/PNP型)

ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;

BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF


06

雙向可控硅

TRIAC

VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-


07

可控硅

SCR

IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;

IGT;VGT;IL;IH


08

硅觸發可控硅

STS

IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;

VPK-;VGSW+;VGSW-


09

達林頓陣列

DARLINTON

ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;

BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;

VCESAT; VBESAT;VBEON


10

光電耦合

OPTO-COUPLER

ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;

CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)


11

繼電器

RELAY

RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME


12

穩壓、齊納二極管

ZENER

IR;BVZ;VF;ZZ


13

三端穩壓器

REGULATOR

Vout;Iin;


14

光電開關

OPTO-SWITCH

ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF


15

光電邏輯

OPTO-LOGIC

IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF


16

金屬氧化物壓變電阻

MOV

ID+ ID-;VN+;  VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;


17

固態過壓保護器

SSOVP

ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、

IH-;;IBO+ IBO-;VBO+  VBO-;VZ+  VZ-


18

壓變電阻

VARISTOR

ID+;  ID-;VC+   ;VC-


19

雙向觸發二極管

DIAC

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,



1.4系統曲線測試列舉
ID vs. VDS at range of VGS

ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD

RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS

IDSS vs. VDS
HFE vs. IC

BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE

BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC

VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)

VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF




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