晶體管曲線追蹤儀測試參數(shù)：可測試 19大類27分類的大中小功率分立器件及模塊的靜態(tài)直流參數(shù)
（測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA

詳細(xì)介紹

晶體管曲線追蹤儀
ST-SP2000_5 (Curve版)
可測試 19大類27分類的大中小功率分立器件及模塊的靜態(tài)直流參數(shù)
（測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA

支持曲線掃描圖示功能

?產(chǎn)品應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域
高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機(jī)、白色家電、新能源汽車、軌道機(jī)車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試）
? 失效分析（對失效器件進(jìn)行測試，查找失效機(jī)理。以便于對電子整機(jī)的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案）
? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較*的器件進(jìn)行分類配對）
? 來料檢驗（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
? 產(chǎn)線自動化測試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實現(xiàn)規(guī)模化、自動化測試）
天光測控-晶體管曲線追蹤儀
?產(chǎn)品簡述
產(chǎn)品擴(kuò)展性強(qiáng)，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了
系統(tǒng)操作。通過功能按鍵，系統(tǒng)可以脫離主控計算機(jī)獨(dú)立完成多種工作。

曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準(zhǔn)確地生成精確的數(shù)據(jù)點。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù)，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數(shù)據(jù)點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET
RDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外，針對多條曲線，設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運(yùn)行并將所獲數(shù)據(jù)自動發(fā)送到一個單獨(dú)的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快，更簡潔的創(chuàng)*線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。設(shè)備支持在單個 DUT 上運(yùn)行高達(dá) 10 條不同曲線的能力，在運(yùn)行過程中，每個圖表都是可視的，每個數(shù)據(jù)集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運(yùn)行速度快，可進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄，提供更高級的數(shù)據(jù)工具箱，能夠運(yùn)行多條曲線并自動排序，自動將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標(biāo)重新運(yùn)行功能以及其他許多優(yōu)點。

系統(tǒng)提供與機(jī)械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。

?可供選擇的曲線

產(chǎn)品目錄
? 晶體管圖示儀（曲線追蹤儀）
? 半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)。
? 靜態(tài)測試設(shè)備：包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)
? 動態(tài)測試設(shè)備：包括 Tr， Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Ci , RBSOA 等
? 環(huán)境老化測試：包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等
? 熱特性測試：包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等
? 測試范圍：Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOSFET , DIODE , BJT , SCR等分立器件及功率器件。