ST-SP2001

可測試 19大類27分類的大中小功率分立器件及模塊的靜態直流參數
（測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極2000V / 50~1250A，分辨率至1mV / 10pA

支持曲線掃描圖示功能

?產品應用
應用領域
高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業鏈 ……
主要用途
? 測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試）
? 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案）
? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較*的器件進行分類配對）
? 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
? 產線自動化測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）
天光測控MOSFET參數測試儀
?產品簡述
產品擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果,前面板的功能按鍵方便了
系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。

曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數據點。數據增量是可編程的線性或對數，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET
RDSvs. VGS 等曲線數據。此外，針對多條曲線，設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發送到一個單獨的 Excel 工作表。系統能夠更快，更簡潔的創*線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。設備支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統運行速度快，可進行數據記錄，提供更高級的數據工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數據存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優點。

系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

?可供選擇的曲線

產品目錄
? 晶體管圖示儀（曲線追蹤儀）
? 半導體分立器件測試篩選系統。
? 靜態測試設備：包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數
? 動態測試設備：包括 Tr， Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Ci , RBSOA 等
? 環境老化測試：包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等
? 熱特性測試：包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等
? 測試范圍：Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOSFET , DIODE , BJT , SCR等分立器件及功率器件。