日本理學(xué)Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV采用聯(lián)鎖裝置，在X射線開(kāi)啟狀態(tài)下無(wú)法打開(kāi)樣品室操作窗。在測(cè)試中如果指令樣品室解鎖，則快門(mén)關(guān)閉同時(shí)停止X射線，應(yīng)用于石棉、游離氧化鈣等定量分析、工業(yè)原材料品質(zhì)管理、大學(xué)、科研等等，入射和發(fā)散狹縫可選，

詳細(xì)介紹

日本理學(xué)Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV采用聯(lián)鎖裝置，在X射線開(kāi)啟狀態(tài)下無(wú)法打開(kāi)樣品室操作窗。在測(cè)試中如果指令樣品室解鎖，則快門(mén)關(guān)閉同時(shí)停止X射線，應(yīng)用于石棉、游離氧化鈣等定量分析、工業(yè)原材料品質(zhì)管理、大學(xué)、科研等等，入射和發(fā)散狹縫可選，為您提供所需的分辨率，一維高速探測(cè)器、6位樣品自動(dòng)轉(zhuǎn)換器、旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)、氣密樣品臺(tái)等，實(shí)時(shí)角度校正功能，大幅提高角度精度、強(qiáng)度等基本性能，得到高精度測(cè)試數(shù)據(jù)，可以選配單色器，用于扣除熒光X射線背底，提高信噪比進(jìn)行高質(zhì)量數(shù)據(jù)測(cè)試。

主要特點(diǎn)：
1、高速X-射線檢測(cè)器，檢測(cè)器的速度和強(qiáng)度大幅提高；
2、全新的軟件設(shè)計(jì)理念，豐富的內(nèi)容, 簡(jiǎn)明流暢；
3、光路系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整校準(zhǔn)：配備X-射線光路自動(dòng)調(diào)整校準(zhǔn)模式；
4、豐富的功能附件保障了儀器升級(jí)的可能；
5、水平測(cè)角儀：特別適合粉末類樣品，尤其是易于產(chǎn)生取向效應(yīng)的樣品；
6、全自動(dòng)狹縫調(diào)整裝置；
7、*的光學(xué)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)交叉光路和平行光路的自動(dòng)程序互換。

日本理學(xué)Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV得到了活躍在世界科學(xué)領(lǐng)域前沿的學(xué)者和研究者的高度評(píng)價(jià)和信賴,是X射線衍射儀器的旗艦產(chǎn)品，聚焦法光學(xué)系統(tǒng)和平行光束法光學(xué)系統(tǒng)可輕松切換.不需要重新設(shè)置,水平測(cè)角儀,操作方便,可自由組合各種附件,適合多種樣品的各種測(cè)試，可以進(jìn)行材料的物相鑒定及定量分析以及研究材料原子尺度結(jié)構(gòu)*、起決定性作用的設(shè)備，應(yīng)力、織構(gòu)、取向度和結(jié)晶度的測(cè)定；薄膜物相及物性分析等。

技術(shù)參數(shù)
1、多用途薄膜測(cè)試組件；
2、X射線衍射-差示掃描量熱儀同時(shí)測(cè)量裝置 XRD-DSC；
3、分析軟件包括：XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等；
4、X射線發(fā)生器功率為3KW；
5、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀；
6、測(cè)角儀進(jìn)為1/10000度；
7、In-Plane測(cè)試組件（理學(xué)*）；
8、高速探測(cè)器D/teX-Ultra；
9、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路（帶Mirror）；
10、小角散射測(cè)試組件；
11、微區(qū)測(cè)試組件；
12、測(cè)角儀配程序式可變狹縫；
13、高反射效率的石墨單色器；
14、測(cè)角儀半徑:185mm,285mm(選購(gòu)),280mm(TTR)；
15、X射線防護(hù)罩:帶故障保險(xiǎn)機(jī)構(gòu)的開(kāi)閉式防護(hù)罩；
16、X射線發(fā)生器:3kW。