DiaInspect-ISE表面交互式磨損分析系統
刀具表面磨損分析測量儀
DiaInspect-ISE是一個工具表面交互式磨損分析系統。（例如燒結段或鋸珠）該系統使用光學掃描顯微鏡的硬件。
主要特點：
●可自由選擇的磨損分類
●自動存儲每個粒子的真實坐標（例如燒結段或鋸條）。。
●真實粒子、圖像和被測參數之間的交互連接
●高放大圖像的存儲
●具有多聚焦功能的深聚焦圖像
●曲面和三維掃描模式
●突出高度的簡易測量
●EXCEL結果表
DiaInspect ISE是一個用于交互評估刀具表面磨損的系統。它基于光學掃描顯微鏡DiaInspect.OSM的硬件。它非常適合分析分段或線鋸珠的磨損表面。
硬件：
該系統基于具有5個放大步驟的特殊顯微鏡、四個數字控制LED光源和高質量數字工業攝像機。該顯微鏡配備有電機驅動的聚焦和電機驅動的XY-臺。可連接旋轉軸檢查珠子。所有軸均由操縱桿控制或直接通過控制程序。攝像頭通過USB3連接到PC和圖像處理軟件。
軟件：
軟件分兩步指導用戶分析刀具表面。在步中，創建刀段或焊道表面的概覽圖像。在第二步中，用戶在概覽中定位磨粒
圖像，以更高的放大倍數顯示，用于交互式分類。EXCEL格式的數據庫存儲研磨點的坐標和分類。
操作原則：
DiaInspect.ISE有效地支持工具表面上所有研磨點的位置和磨損階段的交互式收集。概覽圖像用于查找顆粒，然后通過顯微鏡的電機自動定位在相機圖像中。可以高分辨率和高分辨率檢查研磨點高聚焦深度。該程序用彩色邊框標記已檢查的研磨點。
特色：
- 可定義的磨損分類
- 保存研磨點的坐標
- 高倍率圖像可能與研磨點有關
- 堆疊的焦點圖像可以與研磨點相關聯
- 突出高度測量
- EXCEL結果文件
技術數據：
電源：110-230伏交流電。
系統要求：
PC Windows 7 x64或Windows 8 x64
所需資源：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0
CPU-CORES：>=2
CPU-CLOCK：>=2GHZ
內存：8GB
監視器：2x>=22英寸（>=1680x1050）
機械參數：
焦距：20毫米
X行程：76毫米
Y行程：50毫米
旋轉：360°
特殊功能：
帶有三軸操縱桿的靈敏運動控制
操縱手柄X軸到X驅動或旋轉的自動布線
駕駛取決于操作模式（分段或胎圈）
易于安裝的旋轉驅動裝置，帶有磁珠支架
靈活的數字控制照明：
-用于宏觀光學的環形光
-所有鏡頭的背光
-機頭透鏡的同軸照明
-偽暗場照明
測量功能：
-圖像中的線條長度
-圖像中兩條線之間的角度
-兩個焦點位置之間的高度差
-圖像外兩點之間的距離限制成像功能：
-將實際相機圖像保存為JPG、BMP、TIF
-保存多焦點圖像（曲面、高度貼圖、組合視圖）
-在圖像中自動插入標尺
