上照射式 X射線熒光光譜儀PrimusII是理學(xué)公司多年來(lái)總結(jié)出的一套很好的分析方法，不設(shè)定測(cè)試成分也能準(zhǔn)確分析，流程條,按順序顯示測(cè)試處理內(nèi)容，標(biāo)準(zhǔn)樣品，操作手冊(cè)全中文提供,方便用戶PAS自動(dòng)調(diào)整,芯線自動(dòng)清洗，給用戶帶來(lái)方便。
主要特點(diǎn)：
1、輕元素（B,C）靈敏度大幅度提高；
2、高強(qiáng)度的分光晶體RX-25,RX-61,RX-75；
3、重金屬的高靈敏度分析-采用型光學(xué)系統(tǒng)；
4、高靈敏度微區(qū)分析-Mapping位置分辨率100μm；
5、優(yōu)良的無(wú)標(biāo)樣分析的SQX軟件；
6、儀器設(shè)計(jì)充分考慮周邊環(huán)境-節(jié)能、省空間。
應(yīng)用軟件包：
1、設(shè)定樣品（標(biāo)準(zhǔn)樣品、漂移校正樣品）。
2、CD-ROM（測(cè)試條件、校正常數(shù)等）、操作手冊(cè)全盤提供。
其它特點(diǎn)的軟件功能：
1、SQX分析功能；
2、Mapping數(shù)據(jù)庫(kù)；
3、材質(zhì)辨別；
4、理論重疊校正；
5、自動(dòng)程序運(yùn)轉(zhuǎn)；
6、校正投入量計(jì)算。
流程條：
測(cè)試、處理流程顯示。根據(jù)流程條內(nèi)容，擊鼠標(biāo)鍵，便可按順序進(jìn)行所需的測(cè)試、處理。
散射線FP法：
不需設(shè)定非測(cè)試成分，也可以準(zhǔn)確分析。散射線強(qiáng)度計(jì)算，可以考慮幾何學(xué)效果，沒有樣品量信息也可準(zhǔn)確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品，使用SQX軟件，可以簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確地進(jìn)行分析。
應(yīng)用模板：
各種測(cè)試條件以及樣品前處理順序均設(shè)置其中。
定點(diǎn)分析
100μm的Mapping分辨率。可在CCD圖像
上點(diǎn)、區(qū)域、線。定點(diǎn)直徑500μm。
采用r-θ樣品臺(tái)，避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強(qiáng)度的干擾，可得到靈敏度分析結(jié)果。 (無(wú) r-θ 樣品臺(tái))
節(jié)能、節(jié)省空間
節(jié)能功能（自動(dòng)減少X射線光管輸出） 減少冷卻水量 5L/min（水溫30?以下）
PR氣體流量減少（5mL/min）
省空間
采用聯(lián)體設(shè)計(jì)，設(shè)置面積只占傳統(tǒng)儀器70%的空間。
便于維護(hù)
PAS脈沖高度自動(dòng)調(diào)整 F-PC芯線自動(dòng)清洗
技術(shù)參數(shù)：
硬件：
對(duì)應(yīng)超輕元素的X射線光管
采用4kW、30μm薄窗X射線光管，可高靈敏度測(cè)試超輕元素。
采用新型光學(xué)系統(tǒng)
采用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。
48樣品交換器
實(shí)現(xiàn)平臺(tái)式共享化，可放置48個(gè)樣品。
多樣品交換器實(shí)現(xiàn)了省空間。
1次X射線濾光片
除去X射線光管的特征X射線光譜，
在減低背景干擾方面發(fā)揮威力。
雙泵、雙真空系統(tǒng)
采用雙真空系統(tǒng)（樣品室/預(yù)抽真空室）。
防止粉末樣品的細(xì)微粉塵混入光學(xué)系統(tǒng)
的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，樣品交換實(shí)現(xiàn)更高效率。
粉末附件
電磁閥真空密封、防止細(xì)微粉塵進(jìn)入
真空泵內(nèi)。
上照射式 X射線熒光光譜儀PrimusII用了新型分光晶體，使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高，超輕元素對(duì)應(yīng)X射線光管，大功率4千瓦，薄窗，適合輕元素分析48樣品臺(tái),節(jié)省空間，1次濾波片,可去掉來(lái)自光管的特征譜線，減低背景.雙真空,雙泵設(shè)計(jì)，節(jié)省抽真空時(shí)間.防粉塵附件,可防止粉末掉入真空泵，微區(qū)分析可達(dá)500，適合少量樣品分析，軟件在原有的SQX軟件基礎(chǔ)上進(jìn)一步完善，采用對(duì)話方式，進(jìn)行EZ掃描，應(yīng)用模板可將各種測(cè)試條件,以及前處理順序設(shè)置其中，F(xiàn)P無(wú)標(biāo)樣分析，
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